X射线镀层测厚仪Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的款仪器，可自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
技术参数
型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量般为ppm到99.9% 。
镀层厚度般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
配件
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
产品特点
•应用于各种镀层厚度的分析
•、稳定高压电源和X光管，测试结果稳定、
•系统、的分析软件和分析方法
•多元的线性回归法，消除和降低元素间的吸收、增强效应
•多种准直器和滤光片的自动切换
•软硬结合的防辐射设计
•操作简便，键式操作设计
•快速无损分析样品
•超温保护，超载保护
技术规格
•探测器：美Amptek Si-PIN探测器，高速脉冲分析系统
•高压电源：美Spellman 50w（50kv/MA）
•X射线管：50w侧窗铍窗型X射线管
•能量分辨率：149ev
•测量时间：60-300S
•测量含量范围：2ppm-99.9%
•交流220v供电设备：1KVA交流净化稳压电源
•工作温度：10-30°C
•测量条件：大气环境
应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业
电话：15994807208
