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电镀分类
产品简介
型号:Thick800A
X光射线法原理
X射线射到电镀层表面,产生X射线荧光,根据荧光谱线元素能量位置及其强度确定镀层组成及厚度。
应用特点
,测量镀层范围广,适合细微面积及超薄镀层的测量。
测量精度及误差
单镀层和多镀层样品中外层分析精度比较高,般相对误差在2%-5%以内, 其测量的稳定性也比较好;
多层样品中内层镀层的分析精度逐层下降,般二层相对误差在5%-10%,三层相对误差10%-20%;
具体测试精度需依靠相应厚度标样进行辅助校正,以达到相应精密度需求。
Thick800A仪器尺寸
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
样品台尺寸:230(W)×210(D)mm
移动范围:50(X)mm, 50(Y)mm
Z轴升降平台升降范围:0-140mm
Thick800A应用优势
针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析;
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量般为ppm到99.9% 。
通过软件操作样品移动平台,实现不同测试点的测试需求;
配置高分辨率Si-PIN半导体探测器,实现对多镀层样品的分析;
内置高清晰摄像头,方便用户观测样品状态;
高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。
仪器测试页面
激光定位及三维平台移动功能
报告自定义模板可以客户需求自行设置
更新时间:2024/9/26 16:30:41
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