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Think800A镀层测厚仪是款专门针对镀层厚度测量、镀层元素种类及含量的快速无损分析的需求，特别设计了该款仪器，其特点可以概括为以下几点
上照式
测试组件可升降
高精度移动平台
小孔准直器
高分辨率探测器
可视化操作
自动定位高度
自动寻找光斑
鼠标定位测试点
良好的射线屏蔽
超大样品仓
测试口安防护
X射线激发源：5OKV/1000μA-钨靶X光管及高压电源
探测器及分辨率：SDD探测器，分辨率140±5eV
分析元素范围：原子序数16（S）～92（U）
分析元素及层数：次可同时分析多达24种元素及5层镀层
分析厚度范围：检测覆盖层厚度般在50μm以内
检出限：镀层金属元素厚度薄可达0.005μm
定位精度：0.001mm
测量时间：10s及以上
样品平台移动范围：120mm×120mm
样品腔升降平台移动高度：0～150mm
仪器配置
硬件：主机壹台，含下列主要部件
1.X光管 2.半导体探测器
3.放大电路 4.高精度样品移动平台
5.高清晰摄像头 6.高压系统
7.上照、开放式样品腔 8.双激光定位
9.玻璃屏蔽罩
软件：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0
环境温度要求：15℃～30℃
环境相对湿度：<70%
工作电源：交流220±5V
周围不能有强电磁干扰
更新时间：2024/9/9 18:05:13
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