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X荧光ROHS仪
EDX1800E是天瑞仪器公司研发的针对ROHS检测设计开发的款X荧光光谱仪，可以用来分析ROHS，也可以测贵金属如：金、银、铂、钯等成分，还可以用来分析镀层厚度。
样品室尺寸：439mm×300mm×50mm
测量时间：60-200秒（可调
工作电源：交流220V±5V，建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：144±5eV
电致冷硅半导体探测器
ROHS指令有害元素仪检出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br为1PPM
加强金属元素感度分析
应用领域
更新时间：2024/9/26 16:24:43
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