当前位置：首页 > 产品展示 > 波长色散型X射线荧光光谱仪WDXRF可测磷元素

波长色散型X射线荧光光谱仪WDXRF可测磷元素

型号：WDX400

产品价格：电议采购度：167 发布时间：2023/12/12 12:08:53

仪器产地：中国大陆所属地区：江苏苏州市

简要描述：波长色散型X射线荧光光谱仪WDXRF可测磷元素可配置10个固定分光道，同时分析10种元素。根据用户的应用要求可配置为从Na到U 任意十种元素。标准配置为Na、Mg、Al、Si、S、Cl、K、Ca、Fe、P或Ti（可选）十种元素，是大中型企业质量控制的理想选择。

产品咨询联系我们

标签：波长色散型X射线荧光 光谱仪WDXRF 可测磷元素

产品详情

企业类型：制造商
原产地：江苏
测试通道：固定10通道
特点技术：小功率，无需冷却系统
性能特点：快速分析粉末压片，玻璃熔片和块状样品
卖点：售后服务及时，维护费用低

波长色散型X射线荧光光谱仪WDXRF可测磷元素

产品型号：WDX400

应用领域

建材（水泥、玻璃、陶瓷等）
钢铁
有色金属
矿业
地质
化工
石油
质量检验
商品检验

工业硅

磷肥厂

波长色散型X射线荧光光谱仪WDXRF可测磷元素

简介

WDX-400型多道X射线荧光光谱仪可配置10个固定分光道，同时分析10种元素。根据用户的应用要求可配置为从Na到U 任意十种元素。标准配置为Na、Mg、Al、Si、S、Cl、K、Ca、Fe、P或Ti（可选）十种元素，是大中型企业质量控制的理想选择。

性能特点

粉体样品或块样品快速，非破损分析。
可快速分析粉末压片，玻璃熔片和块状物料。
采用多路数字MCA实时检测，大大提高元素检测效率谱峰，不仅便于仪器调试和故障诊断，
并可提高仪器的分析精度和稳定性。
配置充氦装置后可以分析液体样品或易挥发性固体样品。
与顺序型大功率仪器相比较有如下优点：
a、在较小功率和测定时间基本相当的情况下即可达到足够的分析精度。
b、延长X光管使用寿命。
c、减少高压电源故障。
d、降低整机维修成本。
e、采用固定通道，无测角仪磨损问题。

波长色散型X射线荧光光谱仪WDXRF可测磷元素

技术参数

高压电源：400W（50kv/8mA）。
X射线管：Varian公司生产的400W薄铍窗端窗X射线管，Rh靶（Pd靶可选）。
管压管流12小时稳定度：优于0.05%。
分析元素种类：从Na到U的任意十种元素。
探测器：流气正比探测器+封闭正比探测器，10路1024道独立脉冲高度分析器。
真空系统：独立泵站结构，易于维护。
测量室真空度：低于5Pa。
流气系统：高精度流气密度稳定装置，压力稳定度达到±0.003KPa。
前主放：高速前主放电路，大大提高仪器的探测效率，提高仪器的测量精度。
MCA多道：采用数字MCA多道幅度采集器，大大提高检测效率。
交流220V供电设备：1KVA交流净化稳压电流。
分析精度：σn-1（24小时，百分比含量）≤0.05%。
单个样品测量时间：（含换样抽真空时间）≤3～5分钟。
恒温室温度控制精度：设定值±0.1℃。

天瑞仪器波长色散型光谱仪WDX400在硅产品中的应用方案

（粉末压片法）

X荧光光谱仪用于硅产品中微量及常量杂质元素的检测，样品从制样到检测出结果只需10分钟（样品粉碎、除铁、压片、测试），操作简单，对使用人员要求不高，安装、调试以及对贵司的人员培训部由我司工程师上门服务，检测速度方面远远优于化学分析方法，也不需配繁琐的前处理设备，节省人力及化学试剂耗材，提高工作效率。

●硅产品可测量元素评估

待测项目	测量元素	测试仪器	样品处理概述（仅供参考）
硅粉	Fe	WDX200	样品上振磨机振磨至试样能通过0.074mm标准筛（200目），用垫衬剂垫底包边或置于压环内放入压片机，压力在40t，保压时间30s。卸压后取出样片，吹去表面杂质（样片厚度应不小于4mm）后放入仪器样品仓进行测定。
Al	WDX200
Ca	IWDX200
P	WDX200
Ti	WDX200
样品名称	Fe	Al	Ca	P	Ti
工业硅1#	0.254	0.158	0.027	0.006	0.033
工业硅1#	0.253	0.159	0.028	0.006	0.032
工业硅1#	0.253	0.167	0.029	0.007	0.034
工业硅1#	0.253	0.156	0.026	0.006	0.033
工业硅1#	0.255	0.158	0.028	0.007	0.032